本文介绍了一种使用 Agilent 5110 电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES) 分析锂原材料 *中多种杂质元素的方法，并对该方法进行了系统验证。结果显示，该方法的加标回 收率均在 94%–104% 之间，且 2.5 h 稳定性实验结果的相对标准偏差 (RSD) 小于 2%，证 明该方法具有良好的准确度和稳定性，适用于对多品牌、多批次*中的杂质元素进行 分析。

采用 Agilent 5110 ICP-OES，该仪器配备 Vista Chip II 检测器，处 理速度达 1 MHz，整个波长范围一次测量一次读出，具有更快的 分析速度（在本实验中，完成一个样品分析仅需 50 s），且每个 样品分析的气体消耗量更少。同时该仪器拥有较宽的线性动态范 围，有助于大限度减少额外的样品稀释或同一样品多次读数的 需要，从而进一步提高样品通量。