泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度仪新型粗糙度仪，可测 Ra ， Rz 两种参数。 DUO 具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。仪快速测量 在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可,携带方便 DUO粗糙度仪 可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。
经外接口 操作者可在距离被测工件 1m 处操作测量。
校准方便 DUO 粗糙度仪具有自身校准标准，可预设标准值，通过 LCD 显示出来。                                                           
测针保护 不用时，设“ park ”位置可全面保护测针。
人体工程学设计                            

泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度仪技术参数：