YT-H4E电脑薄膜厚度测定仪

电脑薄膜厚度测定仪是薄性材料厚度测定的仪器，广泛适用于薄膜及其他片状材料厚度测定；是包装、科研及产品质量监督检验等行业和部门理想的试验设备。

应用范围

薄膜

产品特性

1.一键测试，简单易懂

2.主板采用技术全新设计，CPU采用32位的ARM处理器，提高了仪器的处理速度，计算数据更加精确快速

3.采用5寸彩色触摸屏，中文显示、触摸

按键，使操作变得简单易懂

4.测头上升下降速度可调

5.自动测量、统计、打印测试结果，并具有数据保存功能

6.采用热敏打印机芯，无须使用油墨和色带、工作时无噪音、打印速度快等特点

7.本仪器配有标准RS232接口，可配合微机软件进行通讯(另购)

主要技术参数

1.电源电压      AC(100～240)V，(50/60)Hz

2.型号                YT-H4E(薄膜)                YT-H12E(薄膜)          

3.测量范围        (0～4)mm                   (0～12)mm      

4.分辨率                0.1um                     0.1um         

5.重复性                0.4um                     0.4um

6.接触面积        50 mm2                    50 mm2    

7.接触压力      (17.5±1)kPa          (17.5±1)kPa      

8.测头下降速度       （0.5～10）mm/s可调

9.打印                 内置热敏打印机

10.通信输出             RS232

11.外形尺寸            320×310×400 mm

12.仪器净重            ≤26.5kg

标准配置

1.电脑厚度测定仪主机

2.打印纸

3.电源线

4.RS232接口及微机软件(另购)

执行标准

GB/T 451.3，QB/T 1055，GB/T 24328.2，ISO 534，GB/T 6672-2001