RT-70V是由日本Napson公司推出的桌上型手动四探针电阻率量测设备。它运用四探针电阻率量针对半导体及其他导电材料进行测量，同时根据各种不同的需要，配备了多款不同的测试平台以便供客户选择。

• 整套测量系统由测量主机RT-70V和不用应用的平台组成
• 测量主机为RT-70V 

   通过旋钮调整输入样品厚度

   主机带自我测试功能，及自动切换测量档位功能

• 应用：半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)

       导电薄膜(金属、离子等)，扩散层，硅相关外延材料，离子注入样品。

• <测试平台> 可根据实际测量应用从下列平台中选择
     (1) RG-7C: 自动测量，探头上下移动
     (2) RG-7S: 测量大尺寸样品，手动移动探头位置，探头自动上下移动
     (3) TS-7D: 手持式测量探头