产品描述

·无限远光学系统，涵盖明场、偏光、微分干涉等观察方式。

·反射、透射两种照明系统可选择。长工作距离平场复消色差物镜。

·适用于半导体工业、电子工业、材料研究等领域。

产品规格

WF-10R 微分干涉检测显微镜

 无限远光学系统，长工作距离平场复消色差物镜，稳定可靠的架台，精确的调焦机构。广泛应用于半导体工业、电子工业、材料科研等领域。DIC观察模式尤其适合液晶显示屏导电板的检测。

规格配置：

1.无限远光学系统：F=200MM

2.光学放大倍数：50X、100X、200X

3.观察方式：明场、偏光、微分干涉

4.长工作距离：20-45MM

5.调焦范围：60MM

6.平台移动范围：X：±75MM、Y：±75MM

7.照明系统：垂直LED照明、透射LED照明

8.成像装置：数字相机或模拟摄像头

观察方式：

1.明场观察：亮度可调同轴LED照明，视野清晰明亮，适合集成电路的检验、精密制造业的装配、零件检测和品质控制。

2.透射观察：采用亮度可调的透射照明，可观察透明样品，尤其适合用户液晶显示屏的品质检测，能清楚的观察发光屏的三色模块。

3.偏光观察：系统内装置偏光机构。可调的检偏镜，便于正交观察。广泛应用于金相试样、岩矿、煤岩、高分子试样等偏光观察。

4.DIC观察--微分干涉观察：在系统插入DIC棱镜装置（渥拉斯顿棱镜），能突出样品各组成之间的相对层次关系，使之呈明显的浮雕状，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能做出正确的判断。DIC显微镜观察法特别适用于液晶显示屏导电板的检测，能够清楚的观察到导电板基板上的导电粒子。

微分干涉检测显微镜