品牌
经销商厂商性质
上海市所在地
| 德国EPK | 涂镀层测厚仪 |
产品特点
涂层测厚仪
测厚仪用于测量以下覆层（覆层包括涂层，镀层等）：
• 钢铁基体上的非磁性覆层
• 有色金属上的绝缘覆层
• 绝缘基体上的有色金属覆层
电源：1X9V碱性电池或外接电源
电池寿命：10000次测量
工作环境温度：主机0-50℃，测头-10℃-70℃，暂时工作可达120℃
主机尺寸/重量：150mmx82mmx35mm/270克
*另有耐高温测头
适用标准：
DIN50891，50982，50984，ISO2178，2360，BS5411，ASTM B 499，B244-CE ISO
技术指标
技术特征 | A1531188 | A1531189 | A1531530 | A1531531 |
MINITEST存储的数据量 |
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应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数） | 1 | 1 | 10 | 99 |
每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值） |
| 1 | 10 | 98 |
可用各自的日期时间标识特性的组数 |
| 1 | zui多500 | zui多500 |
数据总量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
MINITEST统计计算功能 |
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读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar |
| ● |
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读数的八种统计值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
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| ● | ● |
组统计值六种x,x,n,max,min,kvar |
| ● |
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组统计值八种 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
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| ● | ● |
存储显示每一应用行下的所有组内数据 |
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| ● |
分组打印以上显示和存储得数据、统计值 |
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显示并打印测量值、打印的日期和时间 |
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MINITEST 校准方法 |
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透过涂层进行校准（CTC） |
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在粗糙表面上作平均零校准 | ● | ● | ● | ● |
利用PC机进行基础校准 | ● | ● | ● | ● |
补偿一个常数（OFFSET） |
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| ● | ● |
外设的读值传输存储功能 |
| ● | ● | ● |
保护并锁订校准值 | ● | ● | ● | ● |
更换电池时存储读值 | ● | ● | ● | ● |
设置极限值 |
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公英制转换 | ● | ● | ● | ● |
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值 |
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| ● | ● |
连续测量模式中测量稳定后显示读值 | ● | ● | ● | ● |
浮点或定点方式数据传送 | ● | ● | ● | ● |
无需连接测头即可读数值 |
| ● | ● | ● |
组内单值延迟显示 |
| ● | ● | ● |
连续测量模式中显示zui小值 | ● | ● | ● | ● |
测量特性 http://www.ai-test。。ｃｏｍ/list/2/272/1977.html
| 测头 | 量程 | 低端分辨率 | 容差 | zui小曲率半径（凸/凹） | zui小测量面积 | zui小基体厚度 | 尺寸（mm） |
A1531540 | FN1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 1.5mm/10mm | φ5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62 |
A1531541 | FN1.6P | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 只限平直表面 | φ30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89 |
A1531542 | FN2（也适合铜上铬） | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 1.5mm/10mm | φ5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62 |
A1531532 | F05 | 0—500μm | 0.1μm | ±（1%+0.7μm） | 1mm/5mm | φ3mm | 0.2mm | φ15x62 |
A1531533 | F1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 1.5mm/10mm | φ5mm | 0.5mm | φ15x62 |
A1531536 | F3* | 0—3000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 1.5mm/10mm | φ5mm | 0.5mm | φ15x62 |
A1531534 | F1.6/90（管内测头） | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 平直/6mm | φ5mm | 0.5mm | φ8x8x170 |
A1531535 | F2/90（管内测头） | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 平直/6mm | φ5mm | 0.5mm | φ8x8x170 |
A1531537 | F10 | 0—10mm | 5μm | ±（1%+10μm） | 5mm/16mm | φ20mm | 1mm | φ25x46 |
A1531538 | F20 | 0—20mm | 10μm | ±（1%+10μm） | 10mm/30mm | φ40mm | 2mm | φ40x65 |
A1531539 | F50 | 0—50mm | 10μm | ±（3%+50μm） | 50mm/200mm | φ300mm | 2mm | φ45x70 |
A1531543 | N02 | 0—200μ | 0.1μm | ±（1%+0.5μmm） | 1mm/10mm | φ2mm | 50μm | φ16x70 |
A1531544 | N08Cr（适合铜上铬） | 0—80μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 2.5mm | φ2mm | 100μm | φ15x62 |
A1531545 | N1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 1.5mm/10mm | φ2mm | 50μm | φ15x62 |
A1531547 | N2 | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 1.5mm/10mm | φ5mm | 50μm | φ15x62 |
A1531546 | N1.6/90 （管内 测头） | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 平直/10mm | φ5mm | 50μm | φ13x13x170 |
A1531548 | N2/90 （管内测头） | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 平直/10mm | φ5mm | 50μm | φ13x13x170 |
A1531549 | N10 | 0—10mm | 10μm | ±（1%+25μm） | 25mm/100mm | φ50mm | 50μm | φ60x50 |
A1531550 | N20 | 0—20mm | 10μm | ±（1%+50μm） | 25mm/100mm | φ70mm | 50μm | φ65x75 |
A1531551 | N100 | 0—100mm | 100μm | ±（1%+0.3mm） | 100mm/平直 | φ200mm | 50μm | φ126x155 |
A1531552 | CN02（绝缘基体上的有色金属覆层） | 10—200μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 只限平直表面 | φ7mm | 无限制 | φ17x80 |
物理特性
可选附件
持有证书
备注
产品规格列表
| 产品订货号 | 产品介绍 | 符合标准 | zui小订量 | 价格 | 货期 | 备注 |
| A1531188 | 涂层测厚仪：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：1；数据总量：1；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；公英制转换；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；连续测量模式中显示zui小值；品牌：德国EPK | 1 | 16884 | 洽询 | 备注 | |
| A1531189 | 涂层测厚仪：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：1；每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值）1；可用各自的日期时间标识特性的组数1；数据总量：10000；读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar；组统计值六种x,x,n,max,min,kvar；显示并打印测量值、打印的日期和时间；透过涂层进行校准（CTC）；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；外设的读值传输存储功能；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；公英制转换；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；无需连接测头即可读数值；组内单值延迟显示；连续测量模式中显示zui小值；品牌： 德国EPK | 1 | 20693 | 洽询 | 备注 | |
| A1531530 | 涂镀层测厚仪：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：10；每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值）10；可用各自的日期时间标识特性的组数zui多500；数据总量：10000；读数的八种统计值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；组统计值八种 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；分组打印以上显示和存储得数据、统计值；显示并打印测量值、打印的日期和时间；透过涂层进行校准（CTC）；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；补偿一个常数（OFFSET）；外设的读值传输存储功能；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；设置极限值；公英制转换；连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；无需连接测头即可读数值；组内单值延迟显示；连续测量模式中显示zui小值；品牌：德国EPK | 1 | 25163 | 洽询 | 备注 | |
| A1531531 | ：应用行数（根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数）：99；每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计计算，可设宽容度极限值）98；可用各自的日期时间标识特性的组数zui多500；数据总量：10000；读数的八种统计值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；组统计值八种 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；存储显示每一应用行下的所有组内数据；分组打印以上显示和存储得数据、统计值；显示并打印测量值、打印的日期和时间；透过涂层进行校准（CTC）；在粗糙表面上作平均零校准；利用PC机进行基础校准；补偿一个常数（OFFSET）；外设的读值传输存储功能；保护并锁订校准值；更换电池时存储读值；设置极限值；公英制转换；连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值；连续测量模式中测量稳定后显示读值；浮点或定点方式数据传送；无需连接测头即可读数值；组内单值延迟显示；连续测量模式中显示zui小值；品牌：德国EPK | 1 | 28200 | 洽询 | 备注 | |
| A1531532 | 测头：量程：0—500μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.7μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1mm/5mm；zui小测量面积：φ3mm；zui小基体厚度：0.2mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 10106 | 洽询 | 备注 | |
| A1531533 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 6648 | 洽询 | 备注 | |
| A1531534 | 管内测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：平直/6mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德国EPK | 1 | 14191 | 洽询 | 备注 | |
| A1531535 | 管内测头：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：平直/6mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德国EPK | 1 | 14191 | 洽询 | 备注 | |
| A1531536 | 测头：量程：0—3000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 6648 | 洽询 | 备注 | |
| A1531537 | 测头：量程：0—10mm；低端分辨率：5μm；容差：±（1%+10μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：5mm/16mm；zui小测量面积：φ20mm；zui小基体厚度：1mm；尺寸（mm）：φ25x46；品牌：德国EPK | 1 | 10852 | 洽询 | 备注 | |
| A1531538 | 测头：量程：0—20mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+10μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：10mm/30mm；zui小测量面积：φ40mm；zui小基体厚度：2mm；尺寸（mm）：φ40x65；品牌：德国EPK | 1 | 11349 | 洽询 | 备注 | |
| A1531539 | 测头：量程：0—50mm；低端分辨率：10μm；容差：±（3%+50μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：50mm/200mm；zui小测量面积：φ300mm；zui小基体厚度：2mm；尺寸（mm）：φ45x70；品牌：德国EPK | 1 | 32715 | 洽询 | 备注 | |
| A1531540 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 14787 | 洽询 | 备注 | |
| A1531541 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：只限平直表面；zui小测量面积：φ30mm；zui小基体厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ21x89；品牌：德国EPK | 1 | 31215 | 洽询 | 备注 | |
| A1531542 | 测头：也适合铜上铬；量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 17560 | 洽询 | 备注 | |
| A1531543 | 测头：量程：0—200μ；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.5μmm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1mm/10mm；zui小测量面积：φ2mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ16x70；品牌：德国EPK | 1 | 11478 | 洽询 | 备注 | |
| A1531544 | 测头：适合铜上铬；量程：0—80μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：2.5mm；zui小测量面积：φ2mm；zui小基体厚度：100μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 11478 | 洽询 | 备注 | |
| A1531545 | 测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；zui小测量面积：φ2mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 10494 | 洽询 | 备注 | |
| A1531546 | 管内测头：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：平直/10mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德国EPK | 1 | 16577 | 洽询 | 备注 | |
| A1531547 | 测头：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：1.5mm/10mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德国EPK | 1 | 22390 | 洽询 | 备注 | |
| A1531548 | 管内测头：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：平直/10mm；zui小测量面积：φ5mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德国EPK | 1 | 16577 | 洽询 | 备注 | |
| A1531549 | 测头：量程：0—10mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+25μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：25mm/100mm；zui小测量面积：φ50mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ60x50；品牌：德国EPK | 1 | 22390 | 洽询 | 备注 | |
| A1531550 | 测头：量程：0—20mm 低端分辨率：10μm；容差：±（1%+50μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：25mm/100mm；zui小测量面积：φ70mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ65x75；品牌：德国EPK | 1 | 22390 | 洽询 | 备注 | |
| A1531551 | 测头：量程：0—100mm；低端分辨率：100μm；容差：±（1%+0.3mm）；zui小曲率半径（凸/凹）：100mm/平直；zui小测量面积：φ200mm；zui小基体厚度：50μm；尺寸（mm）：φ126x155；品牌：德国EPK | 1 | 28400 | 洽询 | 备注 | |
| A1531552 | 测头：绝缘基体上的有色金属覆层：量程：10—200μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；zui小曲率半径（凸/凹）：只限平直表面；zui小测量面积：φ7mm；zui小基体厚度：无限制；尺寸（mm）：φ17x80；品牌：德国EPK | 1 | 16397 | 洽询 | 备注 | |
| A1531553 | 测头：铁基体上未固化粉末涂层：0-1600um，低端分辨率0.1um；品牌：德国EPK | 1 | 20690 | 洽询 | 备注 | |
| A1531554 | 测头：铝箔或铝薄壁管上薄涂层；0-200um,分辨率0.1um；品牌：德国EPK | 1 | 22688 | 洽询 | 备注 | |
| A1531555 | 用于测头N02 Tu的支架；品牌：德国EPK | 1 | 33421 | 洽询 | 备注 | |
| A1531556 | RS232 接口电缆 for 2100/4100；品牌：德国EPK | 1 | 930 | 洽询 | 备注 | |
| A1531557 | MSOFT41 数据分析软件 for 4100：配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)；品牌：德国EPK | 1 | 4651.7 | 洽询 | 备注 | |
| A1531558 | 精密探头支架：Probe guide, precision；品牌：德国EPK | 1 | 36385 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532285 | MiniPrint4100打印机：适合EPK除700系列所有产品；品牌：德国EPK | 1 | 7891 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532286 | MiniPrint4100-2包可充电电池：（需2包电池，version 2&3）；品牌：德国EPK | 1 | 640 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532287 | 测头：铁及铜铝基体上未固化粉末涂层：0-1600um,分辨率0.1um；品牌：德国EPK | 1 | 19617 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532288 | 测头：铁基体上涂层，250度高温探头，量程0-2mm；品牌：德国EPK | 1 | 11359 | 洽询 | 备注 | |
| AL1532289 | 测头：铁基体上涂层，350度高温探头，量程0-2mm；品牌：德国EPK | 1 | 32468 | 洽询 | 备注 |
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