四探针金属/半导体电阻率测量仪 金属电阻率测定仪

型号：SN/SB100A/2

SB100A/2为原SB100/1及SB100A/1的改进型。

四探针金属/半导体电阻率分析仪由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。

（使用环境5—40℃，相对湿度<80%，供电220V 50Hz，为实验室环境使用）

四探针金属/半导体电阻率分析仪、PZ158A直流数字电压表、SB120/2四探针样品测试平台三部分组成。

l SB118直流电压电流源：是一台4?位的电压源及电流源，既可输出5μV—50V，5档可调电压，基本误差为±（0.1%RD+0.02%FS）又可输出1nA—100mA，5档可调电流，基本误差为±（0.03%RD+0.02%FS）详见本公司产品SB118。

l ：具有6?位字长，0.1μV电压分辨力的带单片危机处理技术的高精度电子测量仪器，可测量0-1000V直流电压。基本量程的基本误差为±（0.002%RD+0.0005%FS），详见本公司产品PZ158A。

l  SB120/2四探针样品测试平台：该测试平台 SB120/1测试平台的改进型。其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原SB120/1的基础上作了很大的改进，故在高校的物理实验及科学研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。