产品简介
硅片厚度测试仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
详细介绍
硅片厚度测试仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
硅片厚度测试仪专业技术
- 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
- 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
- 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
- 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
- 实时显示测量结果的z大值、z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
- 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据*性
- 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
- 系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
- 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输
CHY-CA测试标准 ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817 CHY-CA基础应用：薄膜、薄片、隔膜 、纸张、纸板 、箔片、硅片 、金属片 、纺织材料 、固体电绝缘体 、无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等 CHY-CA技术指标 - 测试范围： 0～2 mm（常规）0～6 mm；12 mm（可选）
- 分辨率 ：0.1 μm
- 测量速度 ：10 次/min （可调）
- 测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
- 接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
- 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
- 进样步距 ：0～1000 mm
- 进样速度 ：0.1～99.9 mm/s
- 电 源 ：AC 220V 50Hz
- 外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)
- 净重 ：32 kg
产品配置 标准配置：主机、标准量块一件 选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码 相关产品 
操作面板： 
试验报告： 
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