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简析串联谐振局部放电试验系统出现的问题及解决方法

时间:2020-12-29      阅读:129

简析串联谐振局部放电试验系统出现的问题及解决方法

 

串联谐振局部放电试验系统在日常出厂试验过程中,有时会突然出现试验背景增大的现象。主要表现为试验系统与被试成盘电缆连接好后,在未施加试验电压前,局放示波器椭圆基线会突然变宽变模糊。与此同时在椭圆基线的固定相位处还会出现大的外界干扰脉冲毛刺,当干扰毛刺大而多时,超过电缆局部放电试验的背景要求时,会导致试验无法正常进行。严重影响了电缆的正常出厂和交货时间。所以就如何消除和排查试验过程中出现的各种背景噪声干扰,我公司做出了一系列的实验,通过*的实验和实践经验,我们找到了一些消除和减少试验设备背景噪声的切实可行的处理方法,串联谐振局部放电试验装置带电缆后背景干扰噪声增大可能是下列的几个原因造成的。

 

1串联谐振局部放电试验系统的高压引线快速接头部分可能存在松动现象。
高压引线的长度一般约10米左右,外部都套有金属软管用于均匀引线的表面电场。金属软管的两端都有试验设备厂家通过处理与线鼻子和快速接头进行可靠连接。但由于该引线在试验过程中常常会因频繁移动及受到试验终端拉力(主要为35电缆试验终端加油后比较重,对引线产生的拉力很大)的影响,时间一长,就会造成快速接头与金属软管的连接处产生松动和接触不良现象。产生这种现象后一方面会使局放示波器椭圆基线变宽变模糊,背景噪声成倍增加。另一方面可能会在试验过程中因接触不良会频繁发生假击穿现象。通过对快速接头拆卸重新紧固处理一般都可大大降低背景噪声,使电缆的试验背景迅速降低到5PC以下,从而满足试验的需要。

 

2.串联谐振局部放电试验系统的同轴电缆信号连接线接头处可能存在接触不良现象。
局放仪与检测单元各信号引线端部封装头会因*使用可能会出现接触不良现象,造成局部放电检测仪背景噪声增大。严重时在打标时椭圆示波器上可能不会收到打标返回脉冲信号,而在系统“高压合”按纽按下后或在高压升压过程中,椭圆基线会突然变宽变模糊,背景也跟着突变,此时在高压下打标,示波器打标返回脉冲信号出现,在高压下一切似乎恢复正常。此现象是由于在系统施加高压后,由电流流过信号回路,通过电弧将接触不良部位信号接通所致。通过对各个同轴电缆信号传输线两端封装头重新插拔检查,或对其进行导通性检查处理,就会很快消除此现象,保证试验的正常进行。

 

3.串联谐振局部放电试验系统电缆试验过程中可能存在重复接地现象,从而使局放仪显示背景噪声成倍增加。
在对装在铁工装上的屏蔽半成品进行局部放电试验时,这种现象尤其比较明显。这是因为裸露的铜带屏蔽层通过铁工装及电缆移动小车和轨道与系统地线相连,造成被试验电缆半成品存在重复接地现象,从而引入了大量的外界干扰信号。使试验系统背景噪声增大,通过在铁工装和移动小车之间垫入绝缘物(电缆成品塑料护套或厚的环氧绝缘材料)隔离,可大大消除干扰,有时成品试验电缆端头铜带留的过长与铁木工装角铁发生搭接现象时,也会造成重复接地,引入大的干扰。上述现象通过采取绝缘隔离措施可大大降低干扰,从而满足出厂局部放电试验的需要。

 

以上是我们在中压交联电缆局部放电试验过程中,排查背景噪声干扰所积累的一些小经验。其中高压引线屏蔽金属软管与快速接头之间发生松动的现象比较多见,我们在试验过程中要引起足够重视。另外在试验过程中如出现成批电缆检测局放不合格,同时设备显示背景噪声较大,此时不能轻易下结论判断电缆局放检测不合格。我们要通过对设备背景噪声产生的原因做*排查和处理后,以设备恢复正常后二次复检结果做为判定电缆局放合格与否的依据。从而防止局部放电检测过程中出现错判和漏判现象。

 

串联谐振局部放电试验系统局部放电试验时应分清放电来源,对于各种非电缆本身放电,要加以排除,保证试验的准确性、科学性。按照正确的方法和步骤去分析、查找,就能排除各种不利试验因素,并且能获得正确有效的数据,提高试验效率。

 

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