痕量二氧化硫（SO2）分析仪  43i-TLE

简介：

• 痕量二氧化硫（SO2）分析仪采用的脉冲荧光技术，对二氧化硫的测量下限可达到50ppt

• 采用脉冲紫外光源可提高光强，使仪器具有较高的紫外光能量，从而降低zui低检测限。43i-TLE所使用的反射式带通滤光片不同于以往所用的投射式滤光片，它可减少光化学降级，并且提高光选择性。这不仅改善了仪器的检测特性，而且提高了仪器的*稳定性。

• 这台结合当代*技术的分析仪器具有网络连接端口和能存储更多数据的闪存。新增的网络接口使得远程控制更为欸方便。允许用户远程下载分析结果。

• 新增的“软键”功能可使用户根据需要设定按键的功能，从而直接进入到常用的菜单和功能。增大的液晶显示屏可以容纳更多信息，除始终显示分析结果外，还可以同时显示其他的操作菜单，运行状态等信息。

  痕量二氧化硫（SO2）分析仪  43i-TLE 

  特点：

1. 满足美国环保署，英国环境部和欧盟的认证要求

2. 在局域网上可被直接远程访问

3. 有大屏幕显示和可用户定义的“软键”等加强的用户界面

4. 用闪存增强数据存储性能，用户可远程现在分析结果

5. 优化的设计增强了电路的通用性和集成性

    技术规格：

    预置量程：0-10，20，50，100，200，500，1000ppb

             0-20,50,100,200,500,1000,2000ug/m3

   用户量程：0-10至100ppb

             0-20至200ug/m3

   零点噪音：0.025ppb RMS(300秒平均时间）

   zui低检测限：0.05ppb (300秒平均时间）

   零点漂移（24h):     ‹0.2ppb