SM-114测厚规
品牌：TECLOCK（日本得乐）
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量，加长型测臂具有更大的测量深度。
测量范围：0-10mm
zui小读数：0.01mm
测量深度：120mm
原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数：
指式方式：指针式
测量范围：0-10mm
zui小读数：0.01mm
测量深度：120mm
体积大小：（W*D*H）190*23*145mm
重量：250g
测厚仪系列：
英国牛津 CMI 233测厚仪
英国牛津 CMI153 便携式涂镀层测厚仪
北京时代TT210数字式涂层测厚仪
北京时代TT220数字式涂层测厚仪
TT230数字式涂层测厚仪
日本得乐测厚规
国产测厚规
国产数显测厚规
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