XRF9能量色散X射线荧光分析仪

n         XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。

n         XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。

（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。

产品特点

n         *的多光束可调系统

n         具有高分辨率的探测器

n         采用XYZ三维样品台

n         大型样品分析室

n         CCD摄像及自动定位系统

n         自动调节双层六通道滤光系统

n         完善的辐射安全防护

n         强大功能的软件操作系统

n         短时间多元素同时分析

n         无损分析和*的薄样分析技术相组合

n         多种定量分析方法

n         无需液氮和水循环冷却

n         种类齐全的选配标准样品

n         RoHS/WEEE指令快速分析

仪器配置

n         外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3

n         样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3

n         主机质量：约45Kg

n         工作环境温度：0~40oC

n         工作环境相对湿度：≤80%

n         元素分析范围：AI-U

n         含量分析范围：1ppm~99.99%

n         重复性：＜5%

n         测量时间：一般60~300s

n         测量对象：块状物体、粉末、液体

n         激发功率：50W

n         探测器分辨率：149gev

n         输入电源：AC110V/220V

n         高压电源：0~50kv/0~1mA

n         X射线辐射剂量：≤1μSv/h

代表性元素120s低检出限LOD(mg/kg)

性能指标