Chroma 3112 晶片测试分类机其高效率的模组化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要 求，多重检查功能装置可降低待测物发生异常的 损坏。

晶片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升 生产效率、减少人力需求，同时也增加了测试稳 定度及测试良率。此外，其简洁的机台设计更可 节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降 低生产成本。

Chroma 3112 晶片测试分类机的特色：

• 高信赖度之PnP自动化测试分类机
• x4 多盘置入自动测试分类
•  (X/Y/Z/θ) 可调式探针座模组
• 测式座产品堆迭检测
• x12 输出分类盘可程式设定输出类别
• 全程即时良率显示与控制
• 全程探针接触状态显示 (选配)