Chroma 3110 双用单站测试分类机

3110 不 但适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测 试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试 系统上的所有测试程式，旨在提供一个*的解 决方案。

支援的晶片尺寸从 3x3mm 到 55x55mm，配备有 自动进出料分类舱及手动分类盘，可优化工程 测试的实验数量。简易操作的操控画面，及适配 性高的testers连接介面，大幅提升机台的使用率 及共用性。除此之外，它能针对不同的测试环境 条件，提供数个温控系统的选择，如三温控制系 统、高功率冷却系统等，测试的环境温度可设置 于常温、高温或低温。

Chroma 3110 双用单站测试分类机的特色：

• 雙用單站測試分類機
• 適用於終端測試或系統功能測試
• 自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能
• 測頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
• 智能型的載盤IC殘留偵測
• 可選配的三溫控制系統 (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃) 
• 可選配的高功率冷卻系統
• 理想的產品工程或研發實驗設備機，可自動蒐集與分析測試、實驗結果的數據