WCT-120PL是使用光致发光传感器的硅片寿命测试仪。WCT-120PL硅片寿命测试工包含了WCT-120仪器的测量和分析技术的同时，又增加了光致发光(PL) 传感器，以基于PL信号测试寿命和掺杂水平。准稳态导(QSSPC) 寿命测试方法和瞬态光电导衰减寿命测试方法都增补了校准的基于PL信号的寿命测试。也可以简单地将工具作为标准的WCT-120使用。

• 一键识别硅片的关键特性

• 产地：美国
• 是否进口：是
• 寿命测量范围：100 ns至大于10 ms
• 测量（分析）模式：QSSPC、瞬态和广义寿命分析
• 传感器区域：直径40 mm
• 保修：所有部件和软件的一年有限保修
• 标准：符合SEMI标准PV-13
• 环境工作温度：20°C–25°C
• 尺寸：宽22.5厘米x深28厘米x高57厘米
• 通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz