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北京时代 TH901*硬度计
面议美泰MATTEL MCT200便携式涂(镀)膜层测厚仪
面议日本理音(RION)SA-78双通道振动及噪音分析仪
面议日本理音(RION)VA-11S振动分析仪
面议日本理音(RION)VM-2004轴承诊断及振动分析仪
面议日本理音(RION)VM-82便携式数字测振仪
面议日本理音(RION)VM-63A便携式数字测振仪
面议NK-10推拉力计( 指针式拉压测力计)
面议NK-30推拉力计,指针式推拉力计
面议锐品-XXG-3505型陶瓷管定向辐射X射线探伤机
面议锐品-XXH-3505型玻璃管定向辐射X射线探伤机
面议江苏锐品-XXQ-2005型玻璃管定向辐射X射线探伤机
面议QuaNix4200/4500是利用霍尔原理而设计的探头与上机一体化式金属涂层测厚仪。QuaNix4500带Fe/NFe两用探头,既可用于测量磁性基体,又可测量非磁性基体如铜、铝、合金等上的涂层。QuaNix4200/4500测厚仪采用的电子技术,能满足各种不同的测量要求。高精度的设备,坚固的结构和便于使用等特点使得该仪器具有广泛的应用。 主要用于: QuaNix4200用于测量铁磁性基体(如钢、铁)上的涂层,如油漆、各种防腐层、粉喷涂等。 产品特点: 既可用于测量磁性基体,又可测量非磁性基体如铜、铝、合金等上的涂层。一机两用,可以节省用户重复投资。 技术参数: 型号 4200 4500 基体 Fe Fe/NFe 测量范围 0-3000μm Fe:0-3000μm/NFe:0-2000μm 显示精度 1μm 1μm 探头形式 一体 一体 1.电源:2节五号电池(AA) 2.仪器净重:100g 3.仪器尺寸:110×60×27mm(长×宽×高) 4.zui小曲率:凹凸半径:3mm/25mm